冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱/高低温冲击试验箱/冷热冲击试验机/温度冲击试验槽TS系列冷热冲击试验箱/温度冲击试验箱/高低温冲击试验箱
*设备特点规格系列齐全–提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择，充分满足不同用户的各种要求；设备还可提供标准高低温试验功能，实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容；高强度、高可靠性的结构设计-确保了设备的高可靠性；工作室材料为SUS304不锈钢-抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；高密度聚氨酯发泡绝热材料-确保将热量散失减到最小；表面喷塑处理-保证设备的持久防腐功能和外观寿命；高强度耐温硅橡胶密封条–确保了设备大门的高密封性；多种可选功能（测试孔、记录仪、测试电缆等）保证了用户多种功能和测试的需要；大面积电热防霜观察窗、内藏式照明–可以提供良好的观察效果；环保型制冷剂–确保设备更加符合您的环境保护要求；*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能*温度控制可实现温度定值控制和程序控制；全程数据记录仪（可选功能）可以实现试验过程的全程记录和追溯；每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性；USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要；采用国际流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%；制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品，使设备的整体质量得到了提升和保证；*设备满足以下标准GB/T-2008高低温试验箱技术条件GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则GJB150.3A-2009**装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验GJB150.4A-2009**装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验GJB150.5A-2009**装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验GJB360B-2009电子及电气元件试验方法方法107温度冲击试验型号TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W标称内容积（升）试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围＋60～＋200℃升温速率※1＋60→＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围－78－0℃降温速率※1＋20→－75℃≤80分钟试验室温度偏差±2℃温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间※25分钟以内试样搁架承载能力30kg试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg内部尺寸（mm）WHD外形尺寸（mm）※4WHD※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）
型号TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W标称内容积（升）试验方式气动风门切换2温室或3温室方式性能高温室预热温度范围＋60～＋200℃升温速率※1＋60→＋200℃≤20分钟低温室预冷温度范围－78－0℃降温速率※1＋20→－75℃≤80分钟试验室温度偏差±2℃温度范围TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃温度恢复时间※25分钟以内试样搁架承载能力30kg试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg内部尺寸（mm）WHD外形尺寸（mm）※4WHD※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。※2恢复条件：室温为＋25℃和循环水温为＋25℃，试样是塑料封装集成电路。（均布）
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